-
一、場發(fā)射透射電子顯微鏡（TEM）
日本電子 JEM-2100F
點分辨率:0.19nm
STEM分辨率：0.2nm
放大倍數(shù)：50-1,500,000x
能譜儀（EDS） 能量分辨率：～130eV(MnKα線) 元素范圍：4Be～98Cf
極靴：超高分辨（UHR）
線分辨率：0.14nm
加速電壓：80-200KV
可用于觀察除磁性材料外的任何無機材料微觀形貌、顆粒尺寸、微區(qū)組成、元素分布、晶體結構、相組成、結構缺陷、晶體結構和組成結構相變原位研究。
-
二、 起重機械網(wǎng)絡控制與傳動電控實驗室
實驗室以網(wǎng)絡控制、無線通信為平臺，已先后開發(fā)出了雙橋式起重機MPI網(wǎng)絡通信系統(tǒng)，平移式纜機無線通信系統(tǒng)，大噸位高速比（速比可達1:50）變頻調速系統(tǒng)及纜索起重機、門座起重機和大跨度門式起重機動態(tài)模擬監(jiān)控系統(tǒng)，這些技術已被運用于各類起重機，大大提高了產(chǎn)品的自動化水平。
解決了傳統(tǒng)方法重機設計中花費時間長、分析的部位具有局限性的缺點。同時，先進的設計理念結合科學的計算方法使我們的產(chǎn)品結構更優(yōu)、應力分布更合理、運行穩(wěn)定和反應敏捷。
-
三、場發(fā)射掃描電鏡(FE-SEM)
德國蔡司 Supra 55
分辨率:0.8nm@15 kV 1.6nm@1 kV
加速電壓0.02-30kV
放大倍數(shù)：12-1,000,000x
樣品室尺寸：330mm(Φ)*270(h)
附件：EDS、BSE、離子濺射儀
可用于觀察金屬、陶瓷、半導體、生物等樣品表面的微細形貌、斷口及內部組織，并對樣品表面微區(qū)成分進行定性和定量分析。
-
四、X射線衍射儀(XRD)
荷蘭帕納科 X’Pert Powder
X射線源：最大功率：3kW
X光管(Cu靶)：最大功率：2.2kW,
θ/θ掃描范圍：0.2-150°
角度重復性：+/-0.0001
配置薄膜附件，可測量薄膜樣品中層的厚度和粗糙度等。
可為材料、機械、半導體、地礦、藥物、陶瓷等行業(yè)提供物相分析。
